Röntgendunkelfeld-Abbildungssystem und -Verfahren

EP2453226 Art B1 26. Oktober 2016

Anmelder: Tsinghua University, Nuctech Company Limited 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2453226
Aktenzeichen
EP10796655
Anmeldetag
6. Juli 2010
Veröffentlichung
26. Oktober 2016
Erteilung
26. Oktober 2016
Rechtsraum
EP
IPC
G01N23/20G01N23/04B82Y10/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Tsinghua University
Nuctech Company Limited
Land
🇨🇳 China

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Renger, Florian Stuttgart, Deutschland
32
Patente gesamt
19
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik Haushalts-, Möbel- & Konsumgüter Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
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