Verfahren zum Messen der Temperatur einer Probe in einer optischen Vorrichtung mit geladenen Partikeln
EP2458354
Art A1
30. Mai 2012
Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2458354
- Aktenzeichen
- EP10192354
- Anmeldetag
- 24. November 2010
- Veröffentlichung
- 30. Mai 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01K5/68
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
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