Verfahren zum Messen der Temperatur einer Probe in einer optischen Vorrichtung mit geladenen Partikeln
EP2458355
Art A3
8. August 2012
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2458355
- Aktenzeichen
- EP11190235
- Anmeldetag
- 23. November 2011
- Veröffentlichung
- 8. August 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01K5/68G01K11/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
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4
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