Elektronenmikroskop mit unterstützender Lokalisationvorrichtung
EP2458617
Art A1
30. Mai 2012
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2458617
- Aktenzeichen
- EP10192319
- Anmeldetag
- 24. November 2010
- Veröffentlichung
- 30. Mai 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/26H01J37/304H01J37/22H01J37/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Fachgebiete
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
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4
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