Verringerung von Rückstreuereignissen in dünnen Elektronendetektoren
EP2463888
Art B1
13. Februar 2013
Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2463888
- Aktenzeichen
- EP10193887
- Anmeldetag
- 7. Dezember 2010
- Veröffentlichung
- 13. Februar 2013
- Erteilung
- 13. Februar 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/26H01J37/244H01J37/22
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
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