Disparitätscursor zur Messung von 3D-Bildern
Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2469872
- Aktenzeichen
- EP11189353
- Anmeldetag
- 16. November 2011
- Veröffentlichung
- 10. Mai 2017
- Erteilung
- 10. Mai 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04N13/02H04N17/00H04N13/04
Abstract
A test and measurement instrument according to an embodiment of the present invention provides a disparity cursor for making quick and easy disparity measurements. In operation, a user uses a sample cursor to specify a pixel of a first image and uses the disparity cursor to specify a pixel of a second image. The test and measurement instrument then automatically provides a measured disparity value based on the two pixels.
Anmelder
- Firma
- Tektronix, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
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HGF
HGF · München
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HGF Limited
HGF Limited · Den Haag
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Hofstetter, Schurack & Partner
Hofstetter, Schurack & Partner · München
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Schurack, Eduard F
NoneMünchen