Verfahren und System zur anfänglichen Quaternion- und Lageschätzung

EP2472225 Art B1 14. Juni 2017

Anmelder: Systron Donner Inertial, Inc., Custom Sensors & Technologies, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2472225
Aktenzeichen
EP11195146
Anmeldetag
22. Dezember 2011
Veröffentlichung
14. Juni 2017
Erteilung
14. Juni 2017
Rechtsraum
EP
IPC
G01C21/16B64G1/24// B64G1/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
Systron Donner Inertial, Inc.
Custom Sensors & Technologies, Inc.
Land
🇺🇸 USA

Fachgebiete

Luft- & Raumfahrttechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Jones, Keith William Glasgow, Großbritannien
661
Patente gesamt
33
Fachgebiete
23
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Nachrichtentechnik & Telekommunikation Software & Datenverarbeitung Medizintechnik & Gesundheit Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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