Verfahren zur Abschätzung eines Verunreinigungsgrads einer Frontscheibe einer optischen Erfassungsvorrichtung und optische Erfassungsvorrichtung
EP2479586
Art B1
19. März 2014
Anmelder: Sick AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2479586
- Aktenzeichen
- EP11000401
- Anmeldetag
- 19. Januar 2011
- Veröffentlichung
- 19. März 2014
- Erteilung
- 19. März 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S17/87G01S17/89G01S7/483
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Sick AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
SICK
Deutsches Unternehmen mit Sitz in Waldkirch, das Sensoren und Sensorlösungen für industrielle Automatisierung, Fabrik-, Logistik- und Prozessautomation entwickelt und herstellt.
1.462 Patente in unserer Datenbank