Verfahren zur Herstellung einer Floating-Gate-Halbleiterspeichervorrichtung

EP2495762 Art B1 1. November 2017

Anmelder: IMEC VZW, Imec VZW 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2495762
Aktenzeichen
EP11075160
Anmeldetag
6. Juli 2011
Veröffentlichung
1. November 2017
Erteilung
1. November 2017
Rechtsraum
EP
IPC
H01L29/66H01L29/423
Offizieller Volltext

Abstract

The present invention is related to a method for producing a floating gate memory device, wherein a semiconductor-on-insulator substrate (1000) is provided, formed of a base substrate (100), a buried insulation layer (101) and a monocrystalline semiconductor top layer (102). Trenches (121-123) are made in the substrate, to form elevated fin-shaped structures (111-114) having a monocrystalline top portion (102') that will act as the floating gate. Parts of the buried insulation layer (101) will act as the tunnel oxide layer (101') of the floating gate devices. A gate dielectric layer (160) is formed on the side walls of the monocrystalline top portions by thermal oxidation, allowing low thickness of said gate dielectric layer. The invention is equally related to a device obtainable by the method of the invention.

Anmelder

Firmen
IMEC VZW
Imec VZW
Land
🇧🇪 Belgien
🇧🇪 imec

Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.

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