Auswählbare Schwellenresetschaltung
Anmelder: NXP USA, Inc., FREESCALE SEMICONDUCTOR, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2503346
- Aktenzeichen
- EP12160380
- Anmeldetag
- 20. März 2012
- Veröffentlichung
- 5. August 2020
- Erteilung
- 5. August 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/30
Abstract
A low voltage testing circuit (125), system (100 and 200), and method for performing low-voltage testing of a circuit (127) in an integrated circuit package (104 and 204) include a selectable threshold reset circuit (125) that includes a voltage-divider ladder (320) that produces a voltage that is a fraction of a power supply voltage, a comparator (310) that compares the fraction with a reference voltage, a switch (350) that controls topology of the voltage-divider ladder thereby changing a value of the fraction, the switch controlled by a signal from a production tester (102 and 202), the signal causing a reset threshold of the selectable threshold reset circuit to be reduced below a normal reset threshold to allow testing of the circuit at a power supply voltage below the normal reset threshold.
Anmelder
- Firmen
- NXP USA, Inc.
FREESCALE SEMICONDUCTOR, INC. - Land
- 🇺🇸 USA
US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.
1.545 Patente in unserer Datenbank
Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.
2.392 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
-
Ferro, Frodo Nunes
NoneToulouse