Verfahren und Vorrichtung zur Berechnung elektromagnetischer Streuungseigenschaften von Strukturen und für die Rekonstruktion von approximativen Strukturen

EP2515168 Art B1 20. Januar 2021

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2515168
Aktenzeichen
EP12158979
Anmeldetag
12. März 2012
Veröffentlichung
20. Januar 2021
Erteilung
20. Januar 2021
Rechtsraum
EP
IPC
G03F1/00G03F1/84G03F7/20G01N21/956G01N21/47
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von
Weenink, Willem Veldhoven, Niederlande
78
Patente gesamt
4
Fachgebiete
2
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