Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur Zwei- oder Dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten
EP2516993
Art B1
19. Februar 2025
Anmelder: Carl Zeiss Microscopy GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2516993
- Aktenzeichen
- EP10795617
- Anmeldetag
- 14. Dezember 2010
- Veröffentlichung
- 19. Februar 2025
- Erteilung
- 19. Februar 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/64
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
Fachgebiete
Vertreten von
Meyer, Jork
Jena, Deutschland
25
Patente gesamt
6
Fachgebiete
1
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Hampe, Holger
NoneJena