In-Column-Detektor für eine teilchenoptische Säule
EP2518756
Art A3
20. März 2013
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2518756
- Aktenzeichen
- EP12165423
- Anmeldetag
- 25. April 2012
- Veröffentlichung
- 20. März 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/145H01J37/244H01J37/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Fachgebiete
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
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28
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4
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