Reflektionsdichte-Messgerät

EP2521911 Art B1 28. März 2018

Anmelder: Hewlett-Packard Development Company, L.P., Hewlett Packard Development Company, L.P. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2521911
Aktenzeichen
EP10842368
Anmeldetag
7. Januar 2010
Veröffentlichung
28. März 2018
Erteilung
28. März 2018
Rechtsraum
EP
IPC
B41F33/00G01N33/32
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Hewlett-Packard Development Company, L.P.
Hewlett Packard Development Company, L.P.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Hewlett-Packard

US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Palo Alto, Kalifornien. Aktiv in Computerhardware, Druckern, Speicherlösungen sowie Unternehmens-IT und Cloud-Infrastruktur.

20.228 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Vertreten von
Liesegang, Eva Boehmert & Boehmert München, Deutschland
2.540
Patente gesamt
32
Fachgebiete
24
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff)
Zum Anwaltsprofil
Kanzlei
Boehmert & Boehmert München, Deutschland

Boehmert & Boehmert geht auf die Zulassung von Dr. Karl Boehmert 1931 in Berlin zurück. Mit Standorten in Deutschland, Alicante, Paris und Shanghai bietet die Kanzlei IP aus einer Hand und legt besonderen Wert auf persönliche Mandantenbetreuung statt Anonymität.

39.124
Patente gesamt
25
Patentanwälte
2
Standorte
Weitere Vertreter

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen