Mikroskopie mit geladenen Teilchen mit Okklusionsdetektion
EP2525386
Art B1
28. Januar 2015
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2525386
- Aktenzeichen
- EP12167967
- Anmeldetag
- 15. Mai 2012
- Veröffentlichung
- 28. Januar 2015
- Erteilung
- 28. Januar 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/244H01J37/22H01J37/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Fachgebiete
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
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Schwerpunkte