Halbleiterkomponente mit Mikrobrücken zur Einstellung eines Zugdehnungszustandes und Verfahren zu seiner Herstellung
EP2527290
Art A1
28. November 2012
Anmelder: Paul Scherrer Institut, ETH Zürich 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2527290
- Aktenzeichen
- EP12153466
- Anmeldetag
- 1. Februar 2012
- Veröffentlichung
- 28. November 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- B81B3/00B81C1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Paul Scherrer Institut
ETH Zürich - Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
PAUL Scherrer Institut
Das Paul Scherrer Institut ist das größte Forschungszentrum für Natur- und Ingenieurwissenschaften der Schweiz mit Sitz in Villigen und Anbindung an Großforschungsanlagen wie Synchrotron und Freie-Elektronen-Laser. Die Patente betreffen vor allem Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterelemente, ergänzt um Medizintechnik, Verfahrenstechnik und Optik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.
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🇨🇭
ETH Zürich
Eidgenössische Technische Hochschule Zürich, Schweizer Hochschule mit Forschungsschwerpunkten in Natur-, Ingenieur- und Materialwissenschaften.
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