Verfahren zur Herstellung dünner Proben zur TEM-Abbildung
EP2530700
Art B1
1. März 2017
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2530700
- Aktenzeichen
- EP12170383
- Anmeldetag
- 1. Juni 2012
- Veröffentlichung
- 1. März 2017
- Erteilung
- 1. März 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/305G01N1/28H01L21/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
506 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte