Verfahren und System zur Spektraldatenanalyse

EP2538185 Art A3 30. Oktober 2013

Anmelder: FEI Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2538185
Aktenzeichen
EP12166979
Anmeldetag
6. Februar 2009
Veröffentlichung
30. Oktober 2013
Rechtsraum
EP
IPC
G01J3/28G01J3/30G01J3/46G01N23/223// G01N23/207
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
FEI Company
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

506 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Janssen, Francis-Paul FEI Company · Inhouse Eindhoven, Niederlande
266
Patente gesamt
15
Fachgebiete
3
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung Optik & Fototechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Elektrische Energietechnik
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