Probenanalysevorrichtung und Probenanalyseverfahren

EP2581746 Art B1 5. April 2023

Anmelder: Hitachi High-Tech Corporation, Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2581746
Aktenzeichen
EP11792446
Anmeldetag
7. Juni 2011
Veröffentlichung
5. April 2023
Erteilung
5. April 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G01N35/00G01N33/543G01N33/53G01N35/08B03C1/00B03C1/033B03C1/01B03C1/28G01N33/574
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Hitachi High-Tech Corporation
Hitachi High-Technologies Corporation
Land
🇯🇵 Japan

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Verfahrens- & Trenntechnik
Vertreten von
Calderbank, Thomas Roger London, Großbritannien
1.660
Patente gesamt
34
Fachgebiete
19
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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