Verfahren zur Messung eines Moleküls, Vorrichtung und Halbleiterchip dafür
EP2584349
Art A1
24. April 2013
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2584349
- Aktenzeichen
- EP11185741
- Anmeldetag
- 19. Oktober 2011
- Veröffentlichung
- 24. April 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N27/22C12Q1/68G01N33/543
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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