Automatische Analysevorrichtung, Analyseverfahren und Informationsverarbeitungsvorrichtung

EP2594944 Art B1 3. Juni 2020

Anmelder: Hitachi High-Tech Corporation, Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2594944
Aktenzeichen
EP11806654
Anmeldetag
4. Juli 2011
Veröffentlichung
3. Juni 2020
Erteilung
3. Juni 2020
Rechtsraum
EP
IPC
G01N35/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Hitachi High-Tech Corporation
Hitachi High-Technologies Corporation
Land
🇯🇵 Japan

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Strehl, Peter München, Deutschland
206
Patente gesamt
27
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Verfahrens- & Trenntechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Metallurgie & Oberflächentechnik
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