Verfahren und Vorrichtung zum Testen Mehrfach-IC-Vorrichtungen
EP2687861
Art A1
22. Januar 2014
Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2687861
- Aktenzeichen
- EP13186868
- Anmeldetag
- 25. September 2012
- Veröffentlichung
- 22. Januar 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3185
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Freescale Semiconductor, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Freescale Semiconductor
Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.
2.392 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Potts, Susan Patricia
Basingstoke, Großbritannien
180
Patente gesamt
16
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte