Verfahren und System zur Bereitstellung einer Qualitätsmetrik für Verbesserte Verfahrenssteuerung

EP2694983 Art B1 3. Juni 2020

Anmelder: KLA-Tencor Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2694983
Aktenzeichen
EP12768608
Anmeldetag
4. April 2012
Veröffentlichung
3. Juni 2020
Erteilung
3. Juni 2020
Rechtsraum
EP
IPC
G03F7/20G03F1/48
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
KLA-Tencor Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

495 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Weitere Vertreter

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen