System zum Messen einer Teilchengrössenverteilung von Teilchen einer teilchenhaften Materie
EP2706344
Art A1
12. März 2014
Anmelder: Paul Scherrer Institut 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2706344
- Aktenzeichen
- EP12183122
- Anmeldetag
- 5. September 2012
- Veröffentlichung
- 12. März 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N15/02G01N15/04G01N23/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Paul Scherrer Institut
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
PAUL Scherrer Institut
Das Paul Scherrer Institut ist das größte Forschungszentrum für Natur- und Ingenieurwissenschaften der Schweiz mit Sitz in Villigen und Anbindung an Großforschungsanlagen wie Synchrotron und Freie-Elektronen-Laser. Die Patente betreffen vor allem Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterelemente, ergänzt um Medizintechnik, Verfahrenstechnik und Optik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.
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