Konfigurierbarer Teilchenstrahlapparat

EP2722867 Art B1 19. September 2018

Anmelder: FEI Company, FEI COMPANY 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2722867
Aktenzeichen
EP13189274
Anmeldetag
18. Oktober 2013
Veröffentlichung
19. September 2018
Erteilung
19. September 2018
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/141H01J37/20H01J37/26
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
FEI Company
FEI COMPANY
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

506 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Vertreten von
Janssen, Francis-Paul FEI Company · Inhouse Eindhoven, Niederlande
266
Patente gesamt
15
Fachgebiete
3
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung Optik & Fototechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Elektrische Energietechnik
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