Verfahren zur Bildung von Mustern mit Unterschiedlich Dotierten Regionen
EP2740149
Art B1
20. Mai 2020
Anmelder: IMEC VZW, IMEC 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2740149
- Aktenzeichen
- EP12750718
- Anmeldetag
- 1. August 2012
- Veröffentlichung
- 20. Mai 2020
- Erteilung
- 20. Mai 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/225H01L31/18H01L21/02H01L31/068
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IMEC VZW
IMEC - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
imec
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
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Fachgebiete
Vertreten von
Williams, Lisa Estelle
Den Haag, Niederlande
114
Patente gesamt
19
Fachgebiete
11
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Haseltine Lake Kempner LLP
Haseltine Lake Kempner LLP · München