Verfahren zum Abgleich von Bildmerkmalen mit Referenzmerkmalen

EP2751742 Art A1 9. Juli 2014

Anmelder: Apple Inc., metaio GmbH 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2751742
Aktenzeichen
EP11764490
Anmeldetag
31. August 2011
Veröffentlichung
9. Juli 2014
Rechtsraum
EP
IPC
G06K9/46G06T7/20
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Apple Inc.
metaio GmbH
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Apple

US-amerikanisches Unternehmen, das Unterhaltungselektronik wie iPhone, iPad und Mac sowie zugehörige Betriebssysteme, Software und digitale Dienste entwickelt und vertreibt.

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Kanzlei
Bardehle Pagenberg Paris, Frankreich

Bardehle Pagenberg wurde 1979 in München gegründet und unterhält in Paris einen Standort nahe der Opéra Garnier. Dort verbindet die Kanzlei französische Avocats mit europäischen Patentanwälten, Schwerpunkte Life Sciences, Pharma und Chemie neben Mechanik und Telekommunikation, aktiv vor dem Einheitlichen Patentgericht.

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