Metrologie basierend auf mehreren Bildern
EP2779093
Art A3
3. August 2016
Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2779093
- Aktenzeichen
- EP14159314
- Anmeldetag
- 13. März 2014
- Veröffentlichung
- 3. August 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06T7/00H01J37/28H01J37/22
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
882 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte