Optische Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung und optisches zerstörungsfreies Inspektionsverfahren
EP2793017
Art A1
22. Oktober 2014
Anmelder: JTEKT Corporation, JTEKT CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2793017
- Aktenzeichen
- EP14164655
- Anmeldetag
- 14. April 2014
- Veröffentlichung
- 22. Oktober 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/63G01N21/71G01N25/72G01J3/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- JTEKT Corporation
JTEKT CORPORATION - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JTEKT
Japanischer Konzern aus Nagoya, hervorgegangen aus Koyo Seiko und Toyoda Machine Works, tätig in Lenksystemen, Wälzlagern und Werkzeugmaschinen für Automobil- und Industrieanwendungen.
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