Verfahren und Vorrichtung zur Verwendung einer Substratgeometrie zur Bestimmung einer Probenahme für Substratanalyse

EP2850494 Art A2 25. März 2015

Anmelder: Kla-Tencor Corporation 🇺🇸

Details

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

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Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik

Vertreten von

Keane, Paul Fachtna Dublin, Irland

492

Patente gesamt

Fachgebiete

Anmelder-Länder

Schwerpunkte

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik

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