Herstellung einer kryogenen Probe für Ladungsteilchenmikroskopie
EP2853847
Art B1
3. Februar 2016
Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2853847
- Aktenzeichen
- EP13186632
- Anmeldetag
- 30. September 2013
- Veröffentlichung
- 3. Februar 2016
- Erteilung
- 3. Februar 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- F25D3/11G01N1/20G01N1/31G01N1/42H01J37/20// G01N1/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
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Schwerpunkte