Mikroskopie mit geladenen Teilchen mit verbessertem Elektronennachweis
EP2879157
Art B1
13. Januar 2016
Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2879157
- Aktenzeichen
- EP14195296
- Anmeldetag
- 28. November 2014
- Veröffentlichung
- 13. Januar 2016
- Erteilung
- 13. Januar 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/22H01J37/28G01N23/225
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
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Schwerpunkte