Bildsequenz und Beurteilungsverfahren, System und COMPUTERPROGRAMM zur strukturierten Beleuchtungsmikroskopie für 3D Höhenprofilsbestimmung

EP2905575 Art B1 31. Oktober 2018

Anmelder: Mitutoyo Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2905575
Aktenzeichen: EP14154205
Anmeldetag: 6. Februar 2014
Veröffentlichung: 31. Oktober 2018
Erteilung: 31. Oktober 2018
Rechtsraum: EP
IPC: G02B21/36G01B11/06G01B11/25

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Mitutoyo Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Mitutoyo Corporation

Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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