Beugungsgitteransatz für Röntgengitterinterferometrie im Abtastmodus

EP2942619 Art A1 11. November 2015

Anmelder: Paul Scherrer Institut 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2942619
Aktenzeichen
EP14167372
Anmeldetag
7. Mai 2014
Veröffentlichung
11. November 2015
Rechtsraum
EP
IPC
G01N23/04A61B6/00G21K1/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Paul Scherrer Institut
Land
🇨🇭 Schweiz
🇨🇭 PAUL Scherrer Institut

Das Paul Scherrer Institut ist das größte Forschungszentrum für Natur- und Ingenieurwissenschaften der Schweiz mit Sitz in Villigen und Anbindung an Großforschungsanlagen wie Synchrotron und Freie-Elektronen-Laser. Die Patente betreffen vor allem Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterelemente, ergänzt um Medizintechnik, Verfahrenstechnik und Optik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.

393 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen