Verfahren zur Optischen Zerstörungsfreien Prüfung und Vorrichtung zur Optischen Zerstörungsfreien Prüfung
EP2952918
Art A1
9. Dezember 2015
Anmelder: JTEKT Corporation, JTEKT CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2952918
- Aktenzeichen
- EP15170094
- Anmeldetag
- 1. Juni 2015
- Veröffentlichung
- 9. Dezember 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/04G01R31/309
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- JTEKT Corporation
JTEKT CORPORATION - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JTEKT
Japanischer Konzern aus Nagoya, hervorgegangen aus Koyo Seiko und Toyoda Machine Works, tätig in Lenksystemen, Wälzlagern und Werkzeugmaschinen für Automobil- und Industrieanwendungen.
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