Strahlungsbildinspektionssystem und Verfahren basierend auf B/s-Architektur
EP2960817
Art A1
30. Dezember 2015
Anmelder: Tsinghua University, Nuctech Company Limited 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2960817
- Aktenzeichen
- EP15174244
- Anmeldetag
- 29. Juni 2015
- Veröffentlichung
- 30. Dezember 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F17/30G01V5/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tsinghua University
Nuctech Company Limited - Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Tsinghua University
Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.
1.696 Patente in unserer Datenbank
🇨🇳
Nuctech
Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.
814 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Delumeau, François Guy
Paris, Frankreich
1.043
Patente gesamt
32
Fachgebiete
16
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Cabinet Beau de Loménie
Cabinet Beau de Loménie · Paris