Halbleiterbauelement und Verfahren zur Prüfung eines Halbleiterbauelements
EP2985615
Art B1
28. Dezember 2022
Anmelder: FUJITSU LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2985615
- Aktenzeichen
- EP15179023
- Anmeldetag
- 30. Juli 2015
- Veröffentlichung
- 28. Dezember 2022
- Erteilung
- 28. Dezember 2022
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28H01L21/66H01L23/538
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJITSU LIMITED
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
8.705 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Fenlon, Christine Lesley
London, Großbritannien
1.693
Patente gesamt
33
Fachgebiete
14
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Haseltine Lake Kempner LLP
Haseltine Lake Kempner LLP · München