Absolutphasenmessung mit Streifenmuster mit Eingebettetem Sekundärem Muster
EP3005294
Art B1
21. März 2018
Anmelder: Microsoft Technology Licensing, LLC 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3005294
- Aktenzeichen
- EP14733846
- Anmeldetag
- 28. Mai 2014
- Veröffentlichung
- 21. März 2018
- Erteilung
- 21. März 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06T7/521
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Microsoft Technology Licensing, LLC
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Microsoft
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Redmond, Washington, gegründet 1975. Entwickelt Betriebssysteme, Software, Cloud-Dienste und Hardware, darunter Windows, Office und Azure.
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Fachgebiete
Vertreten von
Trichard, Louis
Oxford, Großbritannien
243
Patente gesamt
19
Fachgebiete
8
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
CMS Cameron McKenna Nabarro Olswang LLP
CMS Cameron McKenna Nabarro Olswang LLP · London