Probenhalter und Probenpräparierungsvorrichtung

EP3023762 Art B1 29. Juli 2020

Anmelder: Jeol Ltd., JEOL Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3023762
Aktenzeichen: EP15194591
Anmeldetag: 13. November 2015
Veröffentlichung: 29. Juli 2020
Erteilung: 29. Juli 2020
Rechtsraum: EP
IPC: G01N1/32G02B21/26H01J37/20H01J37/30H01J37/305

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Jeol Ltd.
JEOL Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

288 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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