Interferometrische Vorrichtung zur Detektierung einer Substanz, und ein Verfahren zu deren Herstellung
EP3023767
Art A1
25. Mai 2016
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3023767
- Aktenzeichen
- EP15184237
- Anmeldetag
- 8. September 2015
- Veröffentlichung
- 25. Mai 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/03G01N21/35G01J3/02G01J3/42G01N33/00G01N21/45G02B5/08// G01N21/3504G01N21/3577G01N21/05G01N21/61
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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Fachgebiete
Weitere Vertreter
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Crawford, Andrew
NoneNijmegen