Halbleiterbauelement und Verfahren zur Prüfung eines Halbleiterbauelements
EP3029720
Art B1
25. Januar 2023
Anmelder: FUJITSU LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3029720
- Aktenzeichen
- EP15196545
- Anmeldetag
- 26. November 2015
- Veröffentlichung
- 25. Januar 2023
- Erteilung
- 25. Januar 2023
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66G01R31/3185G01R31/317// H01L25/065
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJITSU LIMITED
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
8.705 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Schultes, Stephan
London, Großbritannien
235
Patente gesamt
21
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Haseltine Lake Kempner LLP
Haseltine Lake Kempner LLP · München