Herstellung einer Probe für Ladungsteilchenmikroskop
EP3062082
Art B1
18. April 2018
Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3062082
- Aktenzeichen
- EP15156546
- Anmeldetag
- 25. Februar 2015
- Veröffentlichung
- 18. April 2018
- Erteilung
- 18. April 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N1/28H01J37/26H01J37/20// G01N1/42
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Weitere Vertreter
-
Bakker, Hendrik
NoneEindhoven