Fehlerdetektion und Intelligentes Zurücksetzen von Ferromagnetischen Strukturen in Magnetfeldsensoren

EP3098615 Art B1 3. Januar 2018

Anmelder: NXP USA, Inc., Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3098615
Aktenzeichen
EP16169119
Anmeldetag
11. Mai 2016
Veröffentlichung
3. Januar 2018
Erteilung
3. Januar 2018
Rechtsraum
EP
IPC
G01R33/09G01R33/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
NXP USA, Inc.
Freescale Semiconductor, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 NXP USA

US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.

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