Kit und Verfahren zur Elektronenmikroskopuntersuchung

EP3101407 Art B1 8. März 2023

Anmelder: Japan Science and Technology Agency 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3101407
Aktenzeichen: EP15742637
Anmeldetag: 28. Januar 2015
Veröffentlichung: 8. März 2023
Erteilung: 8. März 2023
Rechtsraum: EP
IPC: G01N1/28G01N23/225H01J37/20

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Japan Science and Technology Agency
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Japan Science and Technology Agency

Japanische staatliche Förderorganisation für Wissenschaft und Technologie, die Forschungsprojekte finanziert und den Technologietransfer zwischen Universitäten und Industrie unterstützt. Die Behörde untersteht dem japanischen Bildungsministerium.

2.090 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von