Verfahren zur Analyse von Oberflächenmodifikationen einer Probe in eines Ladungsträger-Mikroskop
EP3104155
Art A1
14. Dezember 2016
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3104155
- Aktenzeichen
- EP15171227
- Anmeldetag
- 9. Juni 2015
- Veröffentlichung
- 14. Dezember 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N1/28H01J37/26// H01J37/304H01J37/305
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
506 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte