Verfahren zur Messung einer Höhenkarte von mehreren Sichtfeldern und Kombination davon zur Ermittlung einer Zusammengesetzten Höhenkarte mit Verminderter Empfindlichkeit Gegenüber Instrumentendrift
EP3133369
Art B1
20. Dezember 2017
Anmelder: Mitutoyo Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3133369
- Aktenzeichen
- EP15181597
- Anmeldetag
- 19. August 2015
- Veröffentlichung
- 20. Dezember 2017
- Erteilung
- 20. Dezember 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B9/02G01B11/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Mitutoyo Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Mitutoyo Corporation
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
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