Überprüfung der Sensibilität eines Elektronischen Schaltkreises, der eine Berechnung einer Modularen Potenzierung Ausführt
Anmelder: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3136227
- Aktenzeichen
- EP16154855
- Anmeldetag
- 9. Februar 2016
- Veröffentlichung
- 4. April 2018
- Erteilung
- 4. April 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F7/72H04L9/00
Abstract
L'invention concerne un procédé de vérification de la sensibilité d'un circuit électronique (1) exécutant un calcul d'une exponentiation modulaire dans un premier registre (R0) et un deuxième registre (R1), comportant successivement, pour chaque bit de l'exposant (e) : une première étape (52, 54) de multiplication du contenu d'un des registres choisi, parmi le premier registre et le deuxième registre en fonction de l'état du bit de l'exposant, par le contenu de l'autre des premier et deuxième registres, en plaçant le résultat dans ledit un des registres ; et une deuxième étape (53, 25) d'élévation au carré du contenu dudit autre des registres en plaçant le résultat dans cet autre registre, dans lequel le contenu de celui des premier et deuxième registres qui contient le multiplicateur de l'opération de la première étape est perturbé, pour chaque bit de l'exposant, pendant l'exécution de la première étape.
Anmelder
- Firma
- STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
Französischer Produktionsstandort des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics in Rousset. Der Standort fertigt integrierte Schaltkreise und Halbleiterbauelemente für Automobil-, Industrie- und Konsumelektronik.
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