Zweiphasiges Gitterinterferometer zur Phasenkontrast-Röntgenbildgebung
EP3139156
Art A1
8. März 2017
Anmelder: Paul Scherrer Institut 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3139156
- Aktenzeichen
- EP15183946
- Anmeldetag
- 4. September 2015
- Veröffentlichung
- 8. März 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/04A61B6/00G21K1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Paul Scherrer Institut
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
PAUL Scherrer Institut
Das Paul Scherrer Institut ist das größte Forschungszentrum für Natur- und Ingenieurwissenschaften der Schweiz mit Sitz in Villigen und Anbindung an Großforschungsanlagen wie Synchrotron und Freie-Elektronen-Laser. Die Patente betreffen vor allem Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterelemente, ergänzt um Medizintechnik, Verfahrenstechnik und Optik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.
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