Verfahren und Vorrichtung zur Probenabbildung Per Slice And View

EP3149761 Art B1 8. Mai 2019

Anmelder: FEI Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3149761
Aktenzeichen
EP15800579
Anmeldetag
11. Juni 2015
Veröffentlichung
8. Mai 2019
Erteilung
8. Mai 2019
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/305H01J37/302G01N23/225G01N23/22H01J37/26
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
FEI Company
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

506 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Janssen, Francis-Paul FEI Company · Inhouse Eindhoven, Niederlande
266
Patente gesamt
15
Fachgebiete
3
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung Optik & Fototechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Elektrische Energietechnik
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