Untersuchung von Hochtemperaturproben im Ladungsträgerteilchenmikroskop
EP3157041
Art A1
19. April 2017
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3157041
- Aktenzeichen
- EP15189500
- Anmeldetag
- 13. Oktober 2015
- Veröffentlichung
- 19. April 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/244G01T1/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
506 Patente in unserer Datenbank
Weitere Vertreter
-
Bakker, Hendrik
NoneEindhoven